賽默飛電子顯微鏡
工業中的 SEM 和 EDS 分析
檢測樣品：工業產品
檢測項目：微觀結構和元素分析
方案概述：隨著工業過程復雜化的增加，需要更嚴格、更高質量的分析，以確保產品符合所有質量和可靠性標準。由于掃描電鏡（SEM）可以提供樣品表面微觀結構的詳細（納米級）信息，因此已成為實驗室進行現代研發以及失效分析和故障排除的常用工具。掃描電鏡通常與 X 射線能譜儀（EDS）結合使用，將形貌特征和元素信息結合起來。
想要將 SEM 和 EDS 的數據結合起來，通常需要復雜的工作流程，需要用到多個軟件才能最終獲得想要的數據。這種復雜的用戶體驗降低了實驗室的工作效率，造成了潛在的儀器使用行為不一致，并使培訓更加困難，從而使得 SEM-EDS 在大多數實驗室中成為一種專業技術。
在本文檔中，我們將簡要介紹 SEM 和 EDS，以及如何將二者結合起來，在工業應用中進行更深入的材料表征。我們還將展示*的 Thermo Scientific ChemiSEM 技術，該技術將 SEM 和 EDS 集成到一起，成為一種快速、易用的分析手段，無論是新手用戶還是專業人士都可快速掌握。
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